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AI 기반 분석
딥러닝 기반 영상 처리 솔루션으로 기존 룰 기반 알고리즘의 한계를 넘어섭니다
자체 딥러닝 엔진 보유
반도체·전자 검사 현장에서 검증된 자체 개발 영상 처리 딥러닝 솔루션
비정형 불량 대응
정형화되지 않은 스크래치, 이물, 변색 등
복잡한 불량 유형을 학습기반으로 검출
검출 성능 향상
기존 룰 기반 대비 오검율 감소 및 미검출 최소화로 제품 품질 확보
실제 검사 사례
BGA패키지
Ball FM 검출
Wafer Unit · AI 검사 대응
딥러닝 AI 검사 플랫폼 보유
즉시 적용 가능한 AI 검사 플랫폼
JIDAM VISION (AI 검사 플랫폼)
별도 개발 없이 기존 공정에 즉시 적용되는 AI 검사 플랫폼
01 데이터 구축 및 모델 설계
→ 검사 대상 정의 및 데이터 구축 자동화
→ 라벨링 기반 AI 모델 설계 지원
02 모델 학습 및 성능 검증
→ 다양한 데이터 기반 모델 학습
→ 성능 검증 및 최적화 자동화
현장 적용 및 자동화 연동
→ 검사 공정 즉시 적용
→ 설비 및 시스템 연동
→ 실시간 검사 환경 구축
룰 기반 대비 AI 기반의 장점
딥러닝 기반 영상 처리 솔루션으로 기존 룰 기반 알고리즘의 한계를 넘어섭니다
룰 기반 알고리즘
미세 이물(FM) 검출
- 규칙 · 임계값을 수동으로 설정
- 비정형 불량에 취약
- 신규 유형 발생 시 재개발 필요
AI 기반 분석
비정형 · 불량 학습 기반 대응
- 학습 기반 자동 판별 모델 생성
- 비정형 · 복합 불량 유연 대응
- 추가 학습으로 빠른 확장
적용 가능 분야
다양한 산업 현장에서 결함 걸출 솔루션 실적을 보유하고 있습니다
미세 이물(FM) 검출
육안 구분이 어려운 미세 이물을 AI 기반으로 판별. 복잡한 배경 패턴에서도 안정적으로 검출.
< 50 μm
최소 검출 크기
비정형 스크래치 검출
방향 · 길이 · 밝기가 다양한 스크래치를
학습 기반으로 분류. 배경 패턴과의 구분 정확도 향상.
99%+
검출 정확도
크랙 복잡 · 결함 판별
미세 크랙·복잡한 표면 결함을 AI로 판별.
공정 불량과 양품 편차를 구분, 오검출 최소화.
Low
오검율